還不（bú）了解淬火（huǒ）層測厚儀？看（kàn）這裏！

　　

　　儀器有渦流測厚原理和磁（cí）性測（cè）厚原理之分，磁性法（fǎ）測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼（gāng）磁性（xìng）的變化可認為是輕微的)，為了避免熱處（chù）理和冷加工因素的影（yǐng）響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準（zhǔn）;基體金屬的電導率對測量有影（yǐng）響，而（ér）基體金屬的電導率（lǜ）與其材料成份及熱處理方法有關。

　　

　　淬火（huǒ）層測（cè）厚儀的使用與試件（jiàn）基體金屬具（jù）有相同性質的（de）標準（zhǔn）片對儀器進（jìn）行校準，每一種儀器都有一（yī）個臨界厚度，大（dà）於這個厚度，測量就（jiù）不受基體金（jīn）屬厚度的影響；對試件表麵（miàn）形狀的陡變敏感（gǎn），因此在靠近試件邊緣（yuán）或內轉角處進行測量是不（bú）可靠的;試件的曲率對測量有影響，隨（suí）著（zhe）曲率半徑的減（jiǎn）少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表（biǎo）麵上測量也是不可靠的;探頭會使軟塗層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數據（jù）;基體金屬和塗層的表麵粗糙度對測量有影響。

　　

　　高頻交（jiāo）流信號在探頭線圈（quān）中產生（shēng）電磁（cí）場（chǎng），探頭（tóu）靠近導體時，就在其中形（xíng）成渦流。探頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射（shè）阻抗也愈大。這個反饋作用量表征（zhēng）了探頭與導電（diàn）基體之（zhī）間距離（lí）的大小（xiǎo），也就是導電基體上非導電塗層厚（hòu）度的大小。由於這類塗層測厚儀探頭專（zhuān）門測量非鐵磁金屬基體上的塗層厚度，所以通常（cháng）稱為非磁（cí）性探頭。